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第八屆結技術國際研討會8th International Workshop of Junction Technology

發布時間:2008-05-15

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        中國上海 - 2008年5月15日

       岱美有限公司與美國三維原子探針3D Atom Probe制造商Imago Scientific Instruments參與8thInternational Workshop of Junction Technology第八屆結技術國際研討會。University of Wisconsin教授及Imago創辦人Thomas Kelly被邀出席及于會議上發表三維原子探針及于半導體的應用。多位會議參與者對Imago專利技術LEAP–Local Electrode Atom Probe深感興趣及作出多番提問。


  

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