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岱美中國拿到采購Filmetrics膜厚測量儀F20-UV X的訂單(2010.1.20)

發布時間:2011-04-08

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       岱美中國拿到Filmetrics膜厚測量儀F20-UVX的訂單。該客戶位于重慶市,為留英數學天才學成回國成立的**企業,依托其優良的設計計算能力,以及國外的優良經驗,開創了國內高精度光學濾波鏡片生產的先河。F20-UVX被用于測量ARCoating各層減反膜的厚度與各層光學nk值的控制,以達到精準控制光線穿透曲線的目的。
       F20-UVX為F20型膜厚測試儀中最長波段的型號,覆蓋200nm~1700nm紫外波段到近紅外波段,測量的膜厚范圍可達3nm到250um,最重要的是F20-UVX可以提供給客戶提供一個清晰的全波段反射或穿透曲線,非常適合研究高性能光學器件的客戶使用。

       (該系統已于2010年3月交付,安裝和和驗收)

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