發(fā)布時間:2011-04-08
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岱美中國拿到Filmetrics膜厚測量儀F20的訂單。該客戶為中國航天設(shè)立在上海的太陽能電池研究機構(gòu),主要研究非晶硅柔性薄膜太陽能電池,其采用全球優(yōu)越的CVD沉積技術(shù),進行不間斷連續(xù)鍍膜,技術(shù)成熟后將會極大的提高薄膜太陽能電池的生產(chǎn)效率。膜厚儀F20被用于測量非晶硅薄膜電池上的非晶硅(AmorphousSillicon)厚度。
F20標(biāo)準(zhǔn)型膜厚測試儀采用380nm~1050nm可見光進行干涉測量,單測厚度的情況下測試范圍達15nm~70um,分辨率高達0.1nm。膜厚儀F20是一款高性價比的產(chǎn)品,非常適合教學(xué)、研究、產(chǎn)品抽檢等非高負(fù)荷測量的情況使用。目前膜厚儀F20在國內(nèi)外已有數(shù)千種應(yīng)用,國內(nèi)已有數(shù)十家客戶使用。
(該系統(tǒng)將于2011年2月交付,安裝和和驗收)