岱美中國拿到Filmetrics膜厚測量儀F50-UV的訂單。該客戶為國內研究鐵電薄膜領域的頂尖院校，主要研究BaTiO3，BNT，BLT等材料的特性及生長工藝。F50-UV主要用于研究鐵電薄膜生長工藝，控制5" 硅片上BNT生長均勻性，以及研究一些太陽能領域使用的導電薄膜，如AZO等。
       F50系列自動膜厚測量系統是基于F20薄膜厚度測量儀系列的升級版，具有多點測試、自動檢測、檢測速度快、測量精準等優點，該款設備波長范圍為200-1100nm,可檢測膜層厚度范圍在1nm-40um之間，*大可自動測量12寸硅片，可根據實際應用選取掃描點數進行全圖掃描，具有2點/秒的快速測量速度。

       （該系統以于2011年10月交付，安裝和和驗收）