發布時間:2020-05-29
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岱美中國拿到兩臺Filmetrics膜厚測量儀F20-UV的訂單。該客戶為蘇州的一有名的研究型高校,主要研究有機合成物鍍在硅上的情況,測量厚度比較薄,為幾十納米,所以采用F20-UV來進行測量。
F20-UV膜厚測試儀采用200nm~1100nm紫外可見光進行干涉測量,單測厚度的情況下測試范圍達1nm~40um,分辨率高達0.032nm。對于比較薄的有機合成物有廣泛的應用,高的準確度,確保其能夠測量納米級別的薄膜。
(該系統以于2011年10月交付,安裝和和驗收)