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岱美中國拿到采購Filmetrics膜厚測量儀F40-UV膜厚儀的訂單（2013.1.6）
發布時間：2020-06-17
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岱美中國拿到采購Filmetrics膜厚測量儀F40-UV的訂單。該客戶是廣州一知 名高校，主要研究的是半導體材料的性質，其主要用我們的F40-UV測量鍍層SiO2等半導體材料的厚度，顯微鏡是用Filmetrics配套的顯微鏡。
F40-UV膜厚測量儀采用的是波長范圍在200-1100nm的紫外可見光干涉測量，能夠測量4nm-20um范圍的膜層厚度，精度高達0.032nm，配置顯微鏡，能夠清晰掃描膜層表面細微結構，非常適合測量膜層表面細微位置厚度。
（系統已于2012年12月交付，安裝和驗收）
滬公網安備 31011502016664號
唐女士-華南、西南