FR-ES: 精簡薄膜厚度測量特性分析系統(tǒng)

FR-ES 是一款輕巧便捷膜厚測量分析系統(tǒng)。 使用 FR-ES，用戶可以在 370-1020nm 光譜范圍內(nèi)進行反射率和透射率測量。

FR-ES 機型提供出色的膜厚測量分析性能。可用于各種不同的應(yīng)用，例如：薄膜厚度、折射率、顏色、透射率、反射率等等.

FR-ES 機型提供三種波長范圍配置: VIS/NIR (370- 1020nm, NIR-N1 (850-1050nm), NIR (900-1700nm).

配件：

· 濾光片：可阻擋某些光譜范圍內(nèi)的光

· FR-Mic：提供微米級別區(qū)域進行測量

· 手動載物臺：100x100mm或 200x200mm

· 薄膜/比色皿支架：用于吸光度/透射率和化學(xué)濃度測量的薄膜/比色皿支架

· 積分球：用于漫反射和全反射反射率測量

特征：

· 單點分析（無需初始值）

· 動態(tài)測量連續(xù)測量

· n & k、色座標測量

· 離線分析軟件

· 軟件更新

通過不同模塊的組合設(shè)置滿足任何用戶的需求